Pierwszy układ testowy transiwera zgodny z SuperSpeed USB

Strona startowa > Pierwszy układ testowy transiwera zgodny z SuperSpeed USB

Texas Instruments wprowadza pierwszy układ testowy transiwera zgodny z SuperSpeed USB

Firma Texas Instruments Incorporated (TI), aktywny członek grupy promującej SuperSpeed USB 3.0, opracowała nowy 5 Gbps układ testowy transiwera, zaprojektowany zgodnie ze specyfikacją USB 3.0 w wersji 1.0. Nowy transiwer pozwala na nadawanie i odbieranie sygnałów za pośrednictwem 4-metrowego kabla USB 3.0, zapewniając tym samym integralność danych. Transiwer zostanie zademonstrowany podczas konferencji USB Developers Conference w Tokio, która odbędzie się w Japonii 21-22 maja na stoisku #1. Więcej informacji można uzyskać na stronie internetowej TI poświęconej technologii SuperSpeed USB: www.ti.com/superspeedusb3-pr.

(c) 2009 Jerzy Kazojć - wszelkie prawa zastrzeżone